• 
    
  • <output id="uiwmy"></output>

      儀器網

      歡迎您: 請登錄 免費注冊 儀器雙拼網址:yiqi.com
      官方微信
      儀器網

      工具顯微鏡/測量顯微鏡

      賽默飛化學分析儀器
      儀器網/ 產品中心/ 光學儀器/ 光學顯微鏡/ 工具顯微鏡/測量顯微鏡
      工具顯微鏡/測量顯微鏡

      工具顯微鏡/測量顯微鏡

      工具顯微鏡/測量顯微鏡是一種以光學(顯微鏡)瞄準和坐標(工作臺)測量為基礎的機械式光學儀器,可用于測量各種長度和角度,用于平面乃至三維數據的測量。特別適合于測量各種復雜的工具和零件,如螺紋、凸輪的輪廓、切削刀具和孔間距等。工具顯微鏡/測量顯微鏡主要分為:小型工具顯微鏡、大型工具顯微鏡、萬能工具顯微鏡和重型萬能工具顯微鏡等。
      工具顯微鏡/測量顯微鏡產品篩選
      產品品牌
      收起品牌
      產品產地
      不限 中國大陸 大洋洲歐洲亞洲美洲
      廠商性質
      不限 生產商授權代理商一般經銷商
      銷售地區
      江蘇山東上海北京安徽浙江福建廣東廣西海南湖北河南江西天津河北山西寧夏西藏青海陜西四川云南貴州甘肅遼寧吉林黑龍江內蒙古香港臺灣澳門湖南重慶新疆
      不限
      展開更多選項
      工具顯微鏡/測量顯微鏡產品列表
      排列樣式:
      • >
      JGX-2EA上海長方大型數顯工具顯微鏡

      JGX-2EA上海長方大型數顯工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JGX-2EA
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        JGX-2EA 數顯型工具顯微鏡是一種最基礎的精密光學測量儀器.儀器備有多種附件,從而使測量項目有所增加。并配備不同的放大倍率,以便對微小工件也能作精確的測定. 大型工具顯微鏡為機器制造工廠、科學研究機關及高等院校的計量部門廣泛使用的一種多性能計量儀器。作為工具制造廠產品鑒定的基本工具,也適用于其它精密機械制造廠,科學研究單位及學校等,供生產或科學研究之用。

      19JPC-1上海長方萬能工具顯微鏡

      19JPC-1上海長方萬能工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 19JPC-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        19JPC-1 電腦型萬能工具顯微鏡,是應用計算機輔助測量的新一代萬能工具顯微鏡,能解決各種復雜的二維測量問題。傳統的萬工顯對于視場中不能直接觀測到的幾何元素,如園心、中點.交點.中心線及其相互距離。夾角等等都很難進行測量,而在19JPC 儀器上均能迎刃而解。電腦型萬能工具顯微鏡采用精密光柵傳感器和PC系列微機以及數據接口卡采集測量數據,同時以19JPC二維測量程序進行數據處理、顯示并打印測量結果

      19JC-1上海長方數字式萬能工具顯微鏡

      19JC-1上海長方數字式萬能工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 19JC-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        19JC-1 數字式萬能工具顯微鏡以直觀的數字顯示和數字打印方式取代了普通萬工顯的目視讀數方式,以影像法和軸切法按直角坐標與極坐標精確地測量各種零件,是機械加工企業、電子制造業、計量測試所廣泛使用的多用途計量儀器。 數字式萬能工具顯微鏡典型測量對象有: 測量各種成型零件如樣板、樣板車刀、樣板銑刀、沖模和凸輪的形狀。 測量外螺紋(螺紋塞規、絲桿和蝸桿等)的中徑、大徑、小徑、螺距、牙型角。

      107J-1上海長方測量顯微鏡

      107J-1上海長方測量顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 107J-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        107J-1 普通型測量顯微鏡:采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。特別適用于電子行業,機械精加工。用來測量電子線路的寬度和精細小工件的幾何尺寸,以及其它精密零件測。廣泛地適用于計量室,生產作業線以及科學研究等部門。

      15JE-1上海長方數顯測量顯微鏡

      15JE-1上海長方數顯測量顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 15JE-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        15JE-1 數顯型測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下: 1.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等。 2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3.數顯型測量顯微鏡可用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。

      15JA-1上海長方測量顯微鏡

      15JA-1上海長方測量顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 15JA-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        15JA-1 測量顯微鏡是光學計量儀器之一,它結構簡單、操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下 1.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑 2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3.測量顯微鏡可用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織

      15J-1上海長方測量顯微鏡

      15J-1上海長方測量顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 15J-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        15J-1 普通型測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下: 1.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。 2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3.測量顯微鏡用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。

      107JPC-1上海長方增強型測量顯微鏡

      107JPC-1上海長方增強型測量顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 107JPC-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        107JPC-1 增強型測量顯微鏡:采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。特別適用于電子行業,機械精加工。用來測量電子線路的寬度和精細小工件的幾何尺寸,以及其它精密零件測。增強型測量顯微鏡廣泛地適用于計量室,生產作業線以及科學研究等部門。

      107JC-1上海長方電腦型測量顯微鏡

      107JC-1上海長方電腦型測量顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 107JC-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        107JC-1 電腦型測量顯微鏡:采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。特別適用于電子行業,機械精加工。用來測量電子線路的寬度和精細小工件的幾何尺寸,以及其它精密零件測量。電腦型測量顯微鏡廣泛地適用于計量室,生產作業線以及科學研究等部門。

      107JA-1上海長方數顯測量顯微鏡

      107JA-1上海長方數顯測量顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 107JA-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        107JA-1 數顯型測量顯微鏡:采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。特別適用于電子行業,機械精加工。用來測量電子線路的寬度和精細小工件的幾何尺寸,以及其它精密零件測量。數顯測量顯微鏡廣泛地適用于計量室,生產作業線以及科學研究等部門。

      15JC-1上海長方電腦型測量顯微鏡

      15JC-1上海長方電腦型測量顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: 15JC-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        15JC-1 電腦型測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下: 1.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,通孔圓直徑等 2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3.用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維

      JXB-CA上海長方電腦型讀數顯微鏡

      JXB-CA上海長方電腦型讀數顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JXB-CA
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        JXB-CA 電腦型讀數顯微鏡是光學計量儀器之一,它的結構簡單,操作方便,應用范圍很廣, 其主要用途如下: 1、作長度測定。如定孔距。基面距離刻線距離、刻線寬度以及通孔外圓的直徑等。

      JXB-DA上海長方讀數顯微鏡

      JXB-DA上海長方讀數顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JXB-DA
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        JXB-DA 讀數顯微鏡是光學計量儀器之一,結構簡單,操作方便,應用范圍很廣, 其主要用途如下: 1、讀數顯微鏡可作長度測定。如定孔距。基面距離刻線距離、刻線寬度以及通孔外圓的直徑等。 2、讀數顯微鏡能擴大一般顯微鏡使用范圍,可在不同方向上測量。 3、讀數顯微鏡可作觀察顯微鏡,可判別礦石標本,檢查印刷照像底板。由于測量架能脫 開底座,可固定在機床上直接對加工零件進行檢查。

      WL-N上海長方便攜讀數顯微鏡

      WL-N上海長方便攜讀數顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: WL-N
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        便攜式讀數顯微鏡 WL-20、WL-40、WL-50、WL-100能廣泛應用于工廠生產現場的檢驗測量和實驗室的觀察研究,尤其適用于電子、機械制造業,紙張制造業,印刷業,紡織業等的生產現場檢查。該產品體積小,重量輕,造型新穎,操作簡便,也可供學生實驗使用。

      JC4-10B上海長方手持讀數顯微鏡

      JC4-10B上海長方手持讀數顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JC4-10B
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        手持型讀數顯微鏡結構簡單、使用方便。可作測定孔距、刻線寬度、刻線距離、鍵槽寬度、狹縫凹痕、寬度、長度、金屬表面質量、纖維、織物密度、野外標本等。 手持型讀數顯微鏡尤其適合測量布氏、洛氏及維氏硬度試驗壓痕尺寸。

      JC-10B上海長方讀數顯微鏡

      JC-10B上海長方讀數顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JC-10B
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        便攜式讀數顯微鏡結構簡單、使用方便。可作測定孔距、刻線寬度、刻線距離、鍵槽寬度、狹縫凹痕、寬度、長度、金屬表面質量、纖維、織物密度、野外標本等。 便攜式讀數顯微鏡尤其適合測量布氏、洛氏及維氏硬度試驗壓痕尺寸。

      JC4-10A上海長方讀數顯微鏡

      JC4-10A上海長方讀數顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JC4-10A
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        手持型讀數顯微鏡結構簡單、使用方便。可作測定孔距、刻線寬度、刻線距離、鍵槽寬度、狹縫凹痕、寬度、長度、金屬表面質量、纖維、織物密度、野外標本等。 手持型讀數顯微鏡尤其適合測量布氏、洛氏及維氏硬度試驗壓痕尺寸。

      JC-10A上海長方讀數顯微鏡

      JC-10A上海長方讀數顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JC-10A
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        便攜式讀數顯微鏡結構簡單、使用方便。可作測定孔距、刻線寬度、刻線距離、鍵槽寬度、狹縫凹痕、寬度、長度、金屬表面質量、纖維、織物密度、野外標本等。 便攜式讀數顯微鏡尤其適合測量布氏、洛氏及維氏硬度試驗壓痕尺寸。

      IME-2上海長方數顯工具顯微鏡

      IME-2上海長方數顯工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: IME-2
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        IME-2數顯型工具顯微鏡能方便地讀取數顯表頭示值,測量工件的孔徑、孔距等尺寸以及角度、使用任選的目鏡組還能檢驗螺紋以及齒輪形狀等。數顯型工具顯微鏡設計非常緊湊、重量輕、最適合設置在加工現場受到限制的場所。

      JGX-1A上海長方工具顯微鏡

      JGX-1A上海長方工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JGX-1A
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        小型工具顯微鏡JGX-1A是應用非常廣泛的精密光學計量儀器之一。測量范圍廣、精確可靠、操作方便,因而特別適用于精密機械制造與工具制造工業。小型工具顯微鏡主要使用范圍如下: 1.測定形狀樣板,樣板刀等按照直角座標進行測定。 2.測定螺紋;螺紋的中徑、外徑、內徑的測定,測定螺距,螺形角,螺形角對螺紋軸的輪廓位置和螺紋形狀 3.測定角度:測定螺紋梳形車刀,螺紋銑刀的螺形角

      IMPC-1電腦型工具顯微鏡

      IMPC-1電腦型工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: IMPC-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        IMPC-1 電腦型工具顯微鏡能方便地讀取測微表頭示值,配有高精度的工作平臺,日本進口攝像器。可以直接在計算機屏幕上瞄準,無須人眼瞄準,減小人為誤差。測量工件的孔徑、孔距等尺寸以及角度、使用任選的目鏡組還能檢驗螺紋以及齒輪形狀等。電腦型工具顯微鏡設計非常緊湊、重量輕、最適合設置在加工現場受到限制的場所。 是一種理想的多用途的小型精密測量儀器。

      IMC-1上海長方影像工具顯微鏡

      IMC-1上海長方影像工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: IMC-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        IMC-1 影像型工具顯微鏡能方便地讀取測微表頭示值,配有高精度的工作平臺,日本進口攝像器。可以直接在計算機屏幕上瞄準,無須人眼瞄準,減小人為誤差。測量工件的孔徑、孔距等尺寸以及角度、使用任選的目鏡組還能檢驗螺紋以及齒輪形狀等。影像工具顯微鏡設計非常緊湊、重量輕、最適合設置在加工現場受到限制的場所。 是一種理想的多用途的小型精密測量儀器。

      IME-1上海長方數顯工具顯微鏡

      IME-1上海長方數顯工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: IME-1
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        IME-1 數顯型工具顯微鏡能方便地讀取數顯表頭示值,測量工件的孔徑、孔距等尺寸以及角度、使用任選的目鏡組還能檢驗螺紋以及齒輪形狀等。數顯型工具顯微鏡設計非常緊湊、重量輕、最適合設置在加工現場受到限制的場所。

      JGX-2A上海長方大型工具顯微鏡

      JGX-2A上海長方大型工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JGX-2A
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        JGX-2A 型大型工具顯微鏡是一種最基礎的精密光學測量儀器。備有多種附件,從而使測量項目有所增加。并配備不同的放大倍率,以便對微小工件也能作精確的測定。大型工具顯微鏡為機器制造工廠、科學研究機關及高等院校的計量部門廣泛使用的一種多性能計量儀器。作為工具制造廠產品鑒定的基本工具,也適用于其它精密機械制造廠,科學研究單位及學校等,供生產或科學研究之用。

      JX14AC上海長方大型數顯工具顯微鏡

      JX14AC上海長方大型數顯工具顯微鏡

      • 品牌: 上海長方
      • 型號: JX14AC
      • 產地:上海
      • 供應商:上海長方光學儀器有限公司

        JX14AC 數顯型工具顯微鏡在機器制造廠、科學研究機關及高等院校的計量部門或車間檢查站廣泛就應用。數顯型工具顯微鏡采用光柵尺作為長度測量傳感器,長度值采用數字顯示,具有較高的測量精度和操作效率。

      LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡

      LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡

      • 品牌: 日本奧林巴斯
      • 型號: LEXT OLS4500
      • 產地:日本
      • 供應商:上海西努光學科技有限公司

        LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡為您帶來最新的解決方案實現納米級觀測的新型顯微鏡。不會丟失鎖定的目標。(電動物鏡轉換器切換倍率和觀察方法)有涵蓋了低倍觀察到高倍觀察的4種物鏡,并在電動物鏡轉換器上裝配了SPM單元。可以無縫切換倍率和觀察方法,不會丟失觀察對象。此外,該款顯微鏡可以進行納米級觀測。涵蓋了低倍到高倍觀察,并配有多種觀察方法可以迅速發現觀察對象。可以完成低倍到高倍的大范圍倍率觀察。不僅如此,先進光學技術打造的光學顯微鏡帶來多種觀察方法,可以容易的發現觀察對象。此外,對于光學顯微鏡難以找到的觀察對象,還可以使用激光顯微鏡進行觀察。在激光微分干涉(DIC) 觀察中,可以進行納米級微小凹凸的實時觀察。明視場觀察(IC元件)                        微分干涉(DIC)觀察                         激光微分干涉(DIC)觀察縮短從放置樣品到獲取影像的工作時間。放置好樣品后,所有的操作都在1臺裝置上完成。可以迅速,正確的把觀察對象移到SPM顯微鏡下面,所以只要掃描1次就能獲取所需的SPM影像。一體機的機型,所以無需重新放置樣品只要在1臺裝置上切換倍率、觀察方法就能夠靈活應對新樣品。OLS4500是把光學顯微鏡、激光顯微鏡、探針顯微鏡融于一體的一體機,所以無需重新放置樣品,即可自由切換3種顯微鏡進行觀察和評價。這3種顯微鏡各自持有優異的性能,所以能夠高效輸出最佳結果。 OLS4500實現了無縫觀察和測量【發現】可以迅速發現觀察對象使用光學顯微鏡的多種觀察方法, 迅速找到觀察對象OLS4500采用了白色LED光源, 可以觀察到顏色逼真的高分辨率彩色影像。它裝有4種物鏡, 涵蓋了低倍到高倍的大范圍觀察。OLS4500充分發揮了光學觀察的特長, 除了最常使用的明視場觀察(BF)以外, 還可以使用對微小的凹凸添加明暗對比, 達到視覺立體效果的微分干涉觀察(DIC), 以及用顏色表現樣品偏光性的簡易偏振光觀察。此外, OLS4500上還配有HDR功能(高動態范圍功能), 該功能使用不同的曝光時間拍攝多張影像后進行合成, 來顯示亮度平衡更好、強調了紋理的影像。在OLS4500上您可以使用多種觀察方法迅速找到觀察對象。 BF 明視場最常使用的觀察方法。在觀察中真實再現樣品的顏色。適用于觀察有明暗對比的樣品。DIC 微分干涉對于在明視場觀察中看不到的樣品的微小高低差,添加明暗對比使之變為立體可視。適用于觀察金相組織、硬盤和晶圓拋光表面之類鏡面上的傷痕或異物等。簡易偏振光照射偏振光(有著特定振動方向的光線),使樣品的偏光性變為肉眼可視。適用于觀察金相組織、礦物、半導體材料等。HDR 高動態范圍使用不同曝光時間拍攝多張影像并進行影像合成,可以觀察平衡度較好的明亮部分和陰暗部分。此外,還可以強調紋理(表面狀態),進行更精細的觀察。 使用激光顯微鏡,可以觀察到光學顯微鏡中難以觀察到的樣品影像OLS4500采用了短波長405 nm的激光光源和高N.A.的專用物鏡, 實現了優異的平面分辨率。能以鮮明的影像呈現出光學顯微鏡中無法看到的觀察對象。在激光微分干涉(DIC)模式中還可以實時觀察納米級的微小凹凸。  明視場觀察(玻璃板上的異物)          激光微分干涉觀察【接近】迅速發現觀察對象,在SPM上正確完成觀察實現了無縫觀察,不會丟失觀察對象OLS4500在電動物鏡轉換器上裝配了涵蓋低倍到高倍觀察的4種物鏡, 以及小型SPM單元。在光學顯微鏡或激光顯微鏡的50倍、100倍的實時觀察中, 由于SPM掃描范圍一直顯示于視場中心, 所以把觀察目標點對準該位置后, 只要切換到探針顯微鏡, 就能夠正確接近觀察對象。因此, 只需1次SPM掃描就能獲取目標影像, 從而能夠提高工作效率并降低微懸臂的損耗。不會在SPM觀察中迷失的、可切換式向導功能使用探針顯微鏡開始觀察之前, 可以在向導畫面上設置所需的條件, 如安裝微懸臂、掃描范圍等。所以經驗較少的操作者也能安心完成操作。【納米級測量】簡單操作,可以迅速獲得測量結果新開發的小型SPM測頭, 減少了影像瑕疵新開發的小型SPM測頭OLS4500采用了裝在電動物鏡轉換器上的物鏡型SPM測頭。同軸、共焦配置了物鏡和微懸臂前端,所以切換SPM觀察時不會丟失觀察目標點。不僅如此,新開發的小型SPM測頭提高了剛性,所以與傳統產品相比,減少了影像瑕疵并提高了可追蹤性。使用向導功能,自由放大SPM影像使用向導功能, 可以觀察時進一步放大探針顯微鏡拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠標指針設置放大范圍并掃描, 就可以獲取所需的SPM影像。可以自由設置掃描范圍, 所以大幅度提高了觀察和測量的效率。向導功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范圍優異的分析功能, 應對各種測量目的曲率測量(硬盤的傷痕)OLS4500能夠根據您的測量目的分析在各種測量模式中獲取的影像,并以CSV格式輸出測量結果。OLS4500有以下分析功能。截面形狀分析(曲率測量、夾角測量)粗糙度分析形態分析(面積、表面積、體積、高度、柱狀值、承載比)評價高度測量(指定線、指定面積)粒子分析(選項功能)跟從向導畫面的指示, 可輕松操作的6種SPM測量模式接觸模式控制微懸臂與樣品之間作用的排斥力為恒定的同時, 使微懸臂進行靜態掃描, 在影像中呈現樣品的高度。還可以進行彎曲測量。 金屬薄膜動態模式使微懸臂在共振頻率附近振動, 并控制Z方向的距離使振幅恒定, 從而在影像中呈現樣品高度。特別適用于高分子化合物之類表面柔軟的樣品及有粘性的樣品。鋁合金表面相位模式在動態模式的掃描中, 檢測出微懸臂振動的相位延遲。可以在影像中呈現樣品表面的物性差。高分子薄膜電流模式對樣品施加偏置電壓,檢測出微懸臂與樣品之間的電流并輸出影像。此外,還可以進行I/V測量。              Si電路板上的SiO2圖案樣品。高度影像(左)中顯示為黃色的部分是SiO2。在電流影像(右)中顯示為藍色(電流不經過的部分)。通過上圖,可以明確電路板中也存在電流不經過的部分。表面電位模式(KFM)使用導電性微懸臂并施加交流電壓, 檢測出微懸臂與樣品表面之間作用的靜電, 從而在影像中呈現樣品表面的電位。也稱作KFM(Kelvin Force Microscope)。                 磁帶樣品。在電位影像中可以看出數百mV的電位差分布于磁帶表面。這些電位差的分布,可以認為是磁帶表面的潤滑膜分布不均勻。磁力模式(MFM)在相位模式中使用磁化后的微懸臂進行掃描, 檢測出振動的微懸臂的相位延遲, 從而在影像中呈現樣品表面的磁力信息。也稱作MFM(Magnetic Force Microscope)。 硬盤表面樣品。可以觀察到磁力信息。裝配了激光掃描顯微鏡,靈活應對多種樣品輕松檢測85°尖銳角采用了有著高N.A. 的專用物鏡和專用光學系統(能最大限度發揮405 nm 激光性能),LEXT OLS4500 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。LEXT 專用物鏡有尖銳角的樣品(剃刀)高度分辨率10 nm,輕松測量微小輪廓由于采用405 nm的短波長激光和更高數值孔徑的物鏡, OLS4500達到了0.12 μm的平面分辨率。因此, 可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯獨有的亮度檢測技術, OLS4500可以分辨出亞微米到數百微米范圍內的高度差。此外, 激光顯微鏡測量還保證了測量儀器的兩大指標——“正確性”(測量值與真正值的接近程度)和“重復性”(多次測量值的偏差程度)的性能。                  0.12μm行間距高度差標準類型B, PTB-5, Institut fürMikroelektronik, Germany, 6 nm高度測量中的檢測從大范圍拼接影像中指定目標區域高倍率影像容易使視場范圍變小,而通過設置,OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像,從而能夠獲得高分辨率的大范圍視圖數據。不僅如此,還可以在該大范圍視圖上進行3D顯示或3D測量。可用于傳統的線粗糙度測量,也可用于信息量較多的面粗糙度測量                              近年來, 工業產品越來越趨于小型化和輕量化, 所以構成產品的各種部件也越來越精細化。隨著這些部件的精細化, 除了形狀測量以外, 表面粗糙度測量的重要性也日益提高。為了應對這些市場需求, ISO規定的立體表面結構測量儀器中, 添加了激光顯微鏡和AFM(ISO 25178-6)。因此, 與傳統的接觸式表面粗糙度測量相同, 非接觸式表面粗糙度測量也被認定為公認評價標準。OLS4500中配置了符合ISO規定的粗糙度參數。在面粗糙度測量中詳細掌握粗糙度的分布和特點在非接觸式表面粗糙度測量中, 除了線粗糙度還可以測量面粗糙度。在面粗糙度測量中可以掌握樣品表面上指定區域內粗糙度分布和特點, 并能夠與3D影像對照評價。OLS4500可以根據不同樣品和使用目的, 分別使用激光顯微鏡功能或探針顯微鏡功能測量表面粗糙度。激光顯微鏡的面粗糙度測量(105μm×105μm)焊盤 探針顯微鏡的面粗糙度測量(10μm×10μm)OLS4500的粗糙度參數參數兼容性OLS4500具有與接觸式表面粗糙度測量儀相同的表面輪廓參數,因此具有相互兼容的操作性和測量結果。截面曲線Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr粗糙度曲線Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75波動曲線Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr負荷曲線Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本圖形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount適應下一代參數OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度(3D)參數。通過評估平面區域,可以進行高可靠性的分析。振幅參數Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能參數Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp體積參數Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc橫向參數Sal, StrOLS4500的顯微鏡技術光學顯微鏡的原理和特長                             明視場觀察可以獲取顏色信息。紙張上的墨點光學顯微鏡是從樣品上方照射可見光(波長約400 nm到800 nm), 利用其反射光成像, 能夠放大樣品數十倍到一千倍左右進行觀察。光學顯微鏡的特長是可以真實觀察彩色樣品, 還可以切換觀察方法, 強調樣品表面的凹凸, 利用物質的特性(偏光性)進行觀察。OLS4500上可以使用下述觀察方法。明視場觀察       最基本的觀察方法,通過樣品的反射光成像進行觀察微分干涉觀察      給樣品表面的微小凹凸添加明暗對比,使之變為可視的立體影像簡易偏振光觀察      照射偏振光(有著特定振動方向的光線),把樣品的偏光性變為可視影像激光顯微鏡的原理和特長可進行亞微米級觀察和測量的激光顯微鏡(LSM:Laser Scanning Microscope)                             激光顯微鏡的高精度XY掃描(示例)                              光學顯微鏡的平面分辨率很大程度上取決于所用光的光子和波長,采用短波長的激光掃描顯微鏡(LSM)比采用可見光的傳統顯微鏡,擁有更高的平面分辨率。LEXT OLS4500采用405 nm的短波長半導體激光、高數值孔徑的專用物鏡、以及獨特的共焦光學系統,可以達到0.12 μm的平面分辨率。此外,OLS4500配有奧林巴斯獨有的掃描加掃描型2D掃描儀,可以實現高達4096×4096像素的高精度XY掃描。                             高度測量(微透鏡)                                          激光顯微鏡采用短波長半導體激光和獨有的雙共焦光學系統, 會刪除未聚焦區域的信號, 只將聚焦范圍內的反射光檢測為同一高度。同時結合高精度的光柵讀取能力, 可以生成高畫質的影像, 實現精確的3D測量。 探針顯微鏡的原理和特長可以觀察納米級微觀世界的探針顯微鏡(SPM:Scanning Probe Microscope)                             探針顯微鏡的原理                                          探針顯微鏡(SPM)是通過機械式地用探針在樣品表面移動,檢測出探針與樣品之間產生的力、電的相互作用,同時進行掃描,從而得到樣品影像。探針尖端曲率半徑為10 nm左右。典型的探針顯微鏡是原子力顯微鏡(AFM),它通過檢測探針和樣品表面之間作用的引力和張力進行掃描并獲得影像。探針顯微鏡能夠觀察納米級微觀形貌,可以捕捉到樣品最精細的一面。通過微懸臂掃描進行納米觀察                             SPM傳感器光路圖                                          OLS4500上采用了光杠桿法——通過高靈敏度檢測出最前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量(位移)來進行觀測的方法。在懸臂的背面反射激光,并用壓電元件驅動Z軸,使激光照射到光電檢測器的指定位置,從而正確讀取Z方向的微小位移。多種觀察模式在影像中呈現表面形狀和物性                             高分子薄膜                                         探針顯微鏡擁有多種觀察模式,可以觀察、測量樣品表面的形狀,還可以進行物性分析。OLS4500配有以下模式。接觸模式: 在影像中呈現表面形狀(較硬的表面)動態模式: 在影像中呈現表面形狀(較軟的表面、有粘性的表面)相位模式: 在影像中呈現樣品表面的物性差電流模式*: 檢測出探針和樣品之間的電流并輸出影像表面電位模式(KFM)*: 在影像中呈現樣品表面的電位磁力模式(MFM)*: 在影像中呈現樣品表面的磁性信息* 該模式為選項功能。決定高精細度、高質量影像的微懸臂探針位于長度約100μm~200μm的薄片狀微懸臂的前端。您可以根據樣品選擇不同的彈簧常數、共振頻率。反復掃描會磨損探針, 所以請根據需要定期更換微懸臂探針。技術規格:主機 規格LSM部分光源、檢出系統光源:405 nm半導體激光、檢出系統:光電倍增管總倍率108~17,280X變焦光學變焦:1~8X測量平面測量重復性100x : 3σn-1=0.02μm、50x:3σn-1=0.04μm、20x:3σn-1=0.1μm正確性測量值的±2%以內高度測量方式物鏡轉換器上下驅動方式行程10mm內置比例尺0.8nm移動分辨率10nm顯示分辨率1nm重復性100x :σn-1= 0.012μm、50x:σn-1=0.012μm、20x:σn-1=0.04μm正確性0.2+L/100 μm以下(L=測量長度)彩色觀察部分光源、檢出系統光源:白色LED、檢出系統:1/1.8英寸200萬像素單片CCD變焦碼變焦:1~8X物鏡轉換器6孔電動物鏡轉換器微分干涉單元微分干涉滑片:U-DICR、內置偏振光片單元物鏡明視場平面半消色差透鏡5X LEXT專用平面復消色差透鏡20X、50X、100XZ對焦部分行程76 mmXY載物臺100 x 100 mm(電動載物臺)SPM部分運行模式接觸模式、動態模式、相位模式、電流模式*、表面電位模式(KFM)*、磁力模式(MFM)*位移檢出系統光杠桿法光源659 nm半導體激光檢出設備光電檢測器最大掃描范圍X-Y:最大 30 μm x 30 μm、Z:最大 4.6 μm安裝微懸臂在盒式微懸臂支架上一鍵安裝。使用微懸臂安裝位置調整專用工裝夾具預對位,更換支架時無需光學調整。系統總重量約440 kg(不包含電腦桌)I額定輸入100-120 V/220-240 V、600 VA、50/60 Hz

      奧林巴斯 測量顯微鏡 STM7

      奧林巴斯 測量顯微鏡 STM7

      • 品牌: 日本奧林巴斯
      • 型號: STM7
      • 產地:日本
      • 供應商:奧林巴斯(北京)銷售服務有限公司

        STM7顯微鏡具有優良的多用途性,能夠以亞微米精度實現對零部件和電氣組件的高性能三軸測量。無論待測樣品是大的還是小的,測量內容是簡單的還是復雜的,測量人員是新手還是專家,奧林巴斯STM7系列就是能滿足您需求、為您量身打造的測量顯微鏡產品。

      奧林巴斯 半導體/FPD檢測顯微鏡 MX63/MX63L

      奧林巴斯 半導體/FPD檢測顯微鏡 MX63/MX63L

      • 品牌: 日本奧林巴斯
      • 型號: MX63/MX63L
      • 產地:日本
      • 供應商:奧林巴斯(北京)銷售服務有限公司

        讓您的大尺寸樣品檢測流程更加順暢 MX63和MX63L顯微鏡系統特別適合尺寸最大300毫米的晶圓、平板顯示器、電路板、以及其他大尺寸樣品的高質量檢測。其采用的模塊化設計可讓您根據需要選擇組件,獲得根據應用定制的系統。 這兩款符合人體工學設計且人性化的顯微鏡有助于在提高工作效率的同時保持檢測者的工作舒適性。在與奧林巴斯Stream圖像分析軟件結合使用情況下,可以簡化從觀察到報告生成的整體工作流。

      奧林巴斯 半導體與平板顯示器檢測顯微鏡 AL120

      奧林巴斯 半導體與平板顯示器檢測顯微鏡 AL120

      光學和視頻雙系統測量顯微鏡 Hawk Duo

      光學和視頻雙系統測量顯微鏡 Hawk Duo

      • 品牌: 英國VISION
      • 型號: Hawk Duo
      • 產地:英國
      • 供應商:英國工業顯微鏡有限公司上海代表處

        適用于要求高質量和靈活性的應用中。Hawk Duo單個系統結合了光學測量和視頻測量兩種技術,因此,無論您測量什么樣的部件,它都是最理想的選擇。測量范圍可達400mmx300mmDynascope光學顯微鏡技術能夠提供清晰度無與倫比的圖像,使測量得以精確、輕松地完成。集成了視頻測量,實現終極控制功能和靈活性。英國工業顯微鏡有限公司將符合人機工學要求的測量顯微鏡與視頻測量系統相結合,創造了Hawk Duo。Hawk Duo能夠靈活測量常規和難以觀察的部件,因此,無論您測量哪種部件,它都是最理想的選擇。Hawk Duo 能夠極其精確地重復性測量所有材質的復雜零件,在常規和難以觀察的零件的測量方面特別突出,例如黑色或者透明塑料-這是多合一系統!兩種測量系統二合一 - 擴展更多功能光學和視頻雙測量技術使得Hawk Duo成為以下應用情況下的理想之選檢測那些邊緣容易識別,但是某些特征難以觀察的對象,例如:彩色塑料。同時需要常規測量和關鍵尺寸測量的對象,例如醫療器械。需要批量檢測和一次性檢測的零部件。系統詳細信息* 相關配置。**以10倍微距物鏡為基礎(100倍系統放大倍率)。其中L=測得的長,單位mm(200倍系統放大倍率,采用受控條件)。

      精巧型視頻測量系統 Swift PRO Cam

      精巧型視頻測量系統 Swift PRO Cam

      • 品牌: 英國VISION
      • 型號: Swift PRO Cam
      • 產地:英國
      • 供應商:英國工業顯微鏡有限公司上海代表處

        二維與三坐標高精度視頻測量系統 非常適合測量小巧復雜零件 2D 特征 200mm x 100mm 精密測量臺 放大倍率高達 100 倍 內置高清攝像頭 視頻邊緣檢測 (VED) 實現快速精準測量 操作非常簡單,減少培訓需要 輪廓投影儀或其他視頻測量系統的理想升級替代之選

      LEXT OLS5000 3D測量激光顯微鏡

      LEXT OLS5000 3D測量激光顯微鏡

      • 品牌: 日本奧林巴斯
      • 型號: LEXT OLS5000
      • 產地:日本
      • 供應商:上海西努光學科技有限公司

        LEXT OLS5000 3D測量激光顯微鏡配備的兩套光學系統(彩色成像光學系統和激光共焦光學系統)讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像。LEXT OLS5000 3D測量激光顯微鏡有4大關鍵價值:捕捉任意表面形狀。快速獲得可靠數據。使用簡單 - 只需放置樣品并按一下按鈕即可。測量具有挑戰性的樣品。價值1:捕捉任意表面形狀。 OLS5000顯微鏡的先進技術使其能夠進行高分辨率的3D樣品測量。價值2、快速獲得可靠數據該顯微鏡的掃描算法既可提高數據質量又可提高速度,從而縮短您的掃描時間,簡化您的工作流程,最終實現生產力的提升。價值3、使用簡單,只需放置樣品并按一下按鈕即可LEXT? OLS5000顯微鏡具有自動數據采集功能,因而無需進行復雜的設置調整。 甚至生疏的用戶也可以獲得準確的檢測結果。價值4、可測量具有挑戰性的樣品低輸出、非接觸式無損激光測量意味著不需要樣品制備。可以在不損壞易損性材料的情況下對其進行測量。擴展架可容納高達210毫米的樣品,而超長工作距離物鏡能夠測量深度可達25毫米的凹坑。在測量這兩類樣品時,您只需將樣品放在載物臺上即可。[獲取彩色信息]彩色成像光學系統使用利用白光LED光源和CMOS相機獲取彩色信息。[獲取3D 高度信息和高分辨率共焦圖像]激光共焦光學系統采用405納米激光二極管光源和高靈敏度光電倍增管獲得共焦圖像。淺焦深使其能夠用于測量樣品的表面不規則性。[405納米激光光源]光學顯微鏡的橫向分辨率隨著波長的減小而獲得提升。采用短波長激光的激光顯微鏡相比采用可見光(峰值550納米)的傳統顯微鏡具有更優的橫向分辨率。 OLS5000顯微鏡利用405納米短波長激光二極管獲得卓越的橫向分辨率。[激光共焦光學系統]激光共焦光學系統僅接收通過圓形針孔聚焦的光線,并非采集從樣品上反射和散射的所有光線。這樣有助于消除模糊,讓其能夠獲得比普通顯微鏡對比度更高的圖像[X-Y掃描儀]OLS5000顯微鏡配有奧林巴斯光學掃描儀。通過將采用電磁感應MEMS諧振掃描儀的X軸與采用Galvano掃描振鏡的Y軸相結合,能夠讓X-Y掃描儀定位于相對物鏡瞳鏡共軛的位置,因而能夠實現具有較低掃描軌跡失真和較小光學像差的卓越X-Y掃描。[高度測量原理]在測量高度時,顯微鏡通過自動移動焦點位置獲取多個共焦圖像。根據非連續的焦點位置(Z)和檢測光強度(I)可以估算每個像素的光強變化曲線(I-Z曲線),并獲得其峰值位置和峰值強度。由于所有像素的峰值位置與樣品表面的不規則性相對應,因此可以獲得樣品表面的3D形狀信息。與此類似,通過峰值強度數據可以獲得針對樣品表面所有位置焦點的圖像(擴展圖像)。主機規格:型號OLS5000-SAFOLS5000-SMFOLS5000-LAFOLS5000-EAFOLS5000-EMF總倍率54x - 17,280x視場直徑16 μm - 5,120 μm測量原理光學系統反射式共焦激光掃描激光顯微鏡反射式共焦激光掃描激光-DIC 顯微鏡彩色彩色DIC光接收元件激光:光電倍增管(2ch)色彩:CMOS 彩色相機高度測量顯示分辨率0.5 納米動態范圍16 位可重復性 n-1 *1 *2 *620x : 0.03 μm, 50x : 0.012 μm, 100x : 0.012 μm精度 *1 *3 *6測量值 +/- 1.5%拼接圖像精度 *1 *4 *620x : 15+0.5L μm, 50x : 9+0.5L μm, 100x : 7+0.5L μm (L: 拼接長度 [μm])測量噪聲(SQ 噪聲)*1 *5 *61 納米寬度測量顯示分辨率1 納米可重復性 3 n-1 *1 *620x : 0.05 μm, 50x : 0.04 μm, 100x : 0.02 μm精度 *1 *3 *6測量值 +/- 1.5%拼接圖像精度 *1 *3 *620x : 15+0.5L μm, 50x : 9+0.5L μm, 100x : 7+0.5L μm (L: 拼接長度 [μm])單次測量時測量點的最大數量4096 x 4096 像素測量點的最大數量3600 萬像素XY 載物臺配置長度測量模塊?無無?無工作范圍100 x 100 mm 電動100 x 100 mm 手動300 x 300 mm 電動100 x 100 mm 電動100 x 100 mm 手動最大樣品高度100 mm30 mm30 mm210 mm140 mm激光光源波長405 nm最大輸出0.95 mW激光分類2 類 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)彩色光源白光 LED電氣功率240 W240 W278 W240 W240 W質量顯微鏡主體約 31 公斤約 30 公斤約 50 公斤約 43 公斤約 39 公斤控制器約 12 公斤

      STM7奧林巴斯測量顯微鏡

      STM7奧林巴斯測量顯微鏡

      • 品牌: 日本奧林巴斯
      • 型號: STM7
      • 產地:日本
      • 供應商:上海西努光學科技有限公司

        通過整合光學顯微鏡和先進的測量能力實現精確測量多年的顯微鏡開發經驗成就了優異的觀察性能STM7奧林巴斯測量顯微鏡系列采用了當前最先進光學顯微鏡中所使用的UIS2無限遠校正光學系統。因此,觀察到的圖像具有高分辨率和高對比度,此外,像差也被完全消除,以確保實現對微小細節的高精度測量。明場圖像暗場圖像微分干涉圖像偏光圖像花崗巖精雕細琢而成的載物臺基座增強了測量的可靠性STM7-LFFEM分析為了進一步保證測量精度,STM7測量顯微鏡系列采用了一個配備花崗巖基座的高度耐用和防振動的鏡架。由于花崗巖的高穩定性,使測量可到達亞微米水平,同時確保最大程度地降低誤差。作為高度測量的先鋒,繼續提供簡單易操作的高精度3軸測量共聚焦自動對焦系統光路隨著現代制造技術日益小型化和精密化,高精度測量也日趨重要——不僅是XY軸平面的測量,而且Z軸方向的高精度測量也成為必須。奧林巴斯成為首家成功開發了測量顯微鏡用采用主動反射、共聚焦方法的自動聚焦系統的公司,以此響應了這種與日俱增的需求。嚴格的可追溯系統確保品質可靠奧林巴斯通過一個嚴格的可追溯系統控制測量顯微鏡的精確度。并且在安裝系統時奧林巴斯也提供了可追溯的校準服務。測量顯微鏡跟蹤系統STM7測量顯微鏡設計注重易用性提供載物臺以適合眼下的樣本大小[常見問題] ? 短測量行程無法滿足較大樣品的測量需求。? 目前為止,大型載物臺在X軸方向提供了足夠的測量行程,但是Y軸的行程仍然較小。在測量過程中需要通過旋轉樣品來補償比X軸覆蓋范圍要短的Y軸行程,這樣的做法費事費時,效率不高。? 由于可測量的范圍窄,無法將數量較多的樣品排列在載物臺上,以實現一次性同時測量。[STM7解決方案]    共有四種獨特的正方形測量行程的載物臺可供選用,分別為:50 mm×50 mm、100 mm×100 mm、200 mm×200 mm和300 mm×300 mm。不管是大的樣品還是小的樣品,總有一款載物臺會適合您要測量的樣品。? 采用離合器系統可以在粗調和微調之間實現快速切換。具備了這種切換功能之后,載物臺也可以沿著X軸和Y軸方向迅速移動,并且可以在XY平面上自由穿梭。? 300 mm長的方形載物臺在X軸和Y軸方向上可以提供相同的測量行程,這意味著可以不旋轉樣品就實現大型樣品的全部測量,比如300 mm的晶圓和印刷電路板。STM7-CS5050mm x 50mmSTM7-CS100100mm x 100mmSTM7-CS200200 mm x 200 mmSTM7-CS300300 mm x 300 mm使用相同的顯微鏡進行低倍率和高倍率觀察[常見問題]大部分傳統的測量顯微鏡只可以專用測量物鏡或專用金相物鏡,無法同時滿足多種觀察要求。[STM7解決方案]STM7測量顯微鏡可以通過安裝一個測量物鏡適配器使用測量物鏡,而更換為物鏡轉盤后,便可使用金相物鏡。這意味著, STM7將金相光學系統和測量光學系統同時結合在一臺測量顯微鏡中。通過這種方式,無論是測量大型樣品還是精細樣品,或是表面高度差異大的樣品,STM7系列都可以對應并協助用戶選擇最佳的觀察方法。測量物鏡由于測量物鏡具有非常長的工作距離,因此可以在對表面起伏較大的樣品進行聚焦的時候,無需擔心物鏡與樣品之間發生接觸。此外,借助測量物鏡的低倍率能力,可以一次觀察到較大的視場。金相物鏡可以得到和光學顯微鏡相媲美的高倍率和高分辨率觀察能力。更重要的是,在明場觀察之外還可以對應暗場,偏光和微分干涉觀察。明場圖像暗場圖像手動和電動調焦模式的選擇STM7測量顯微鏡系列包括手動調焦和電動調焦兩個系列對于Z軸的上下調焦,有手動型和電動型兩種系列供您選擇。請根據樣品和測量內容選擇符合您需求的機型,而不需要考慮載物臺的尺寸。所有的鏡架均內置Z軸線性標尺,各種型號STM7都可以對應3軸測量。手動Z軸調焦機型手動Z軸調焦機型提供了卓越的成本效益——通過操作被廣泛使用的調焦旋鈕,可以快速的上下移動Z軸。為測量具有各種高度樣品的用戶提供了方便。電動Z軸調焦機型使用電動調焦裝置可以大幅提高操作性,并減少了進行聚焦和高度測量時的操作疲勞。粗微調焦的同軸旋鈕設計使使用者可以以習慣的類似手動的方式進行操作,同時電動機型還可以配備自動聚焦單元。一個具有突破性設計的控制單元大幅提升了測量顯微鏡的操作性[常見問題]? 增加功能時需要添置額外的操作單元。操作者需要同時操作多個單元而導致無法高效率地進行測量。操作時也經常會發生找不到操作單元的情況。? 增加功能時需要添置額外的操作單元。操作者需要同時操作多個單元而導致無法高效率地進行測量。操作時也經常會發生找不到操作單元的情況。[STM7解決方案]控制裝置對于STM7測量顯微鏡系列,只要使用單一的操作裝置能夠執行幾乎所有的測量顯微鏡操作,包括重置計數器、照明控制、調焦和自動聚焦等功能。為了提高效率和方便性,您可以將裝置放在任何想要放置的位置,并可以輕松地單手操作。用于手動Z軸調焦機型:STM7-HS手動操作裝置用于電動Z軸調焦機型:STM7-MCZ電動操作裝置控制箱各個單元的電源和通信均被集成在一個單一的控制箱中。即使是添加一些可選功能比如聚焦導航功能也不需要增加額外的電源裝置,這樣的設計可以最大程度地減少占用工作空間。大大提高了觀察和測量效率的光源管理器[常見問題]? 傳統測量顯微鏡使用的模擬旋鈕調節方式不能實現光強的定量控制。這樣每次測量時的光強無法保持一致,導致測量值也發生變化。? 使用傳統測量顯微鏡時,每次切換物鏡后都需要調節光強,這使得工作流程非常低效。[STM7解決方案]能夠定量掌握光源亮度的數字式顯示 STM7測量顯微鏡能夠實現光強的定量數字化顯示,保證了能在始終一致的照明條件下實施觀察。物鏡切換時,無需手動調節光強光強度管理器可以與編碼物鏡轉盤配置配套使用。帶編碼物鏡轉盤會自動識別目前使用的物鏡,結合光源管理器的預設值功能,可以為每個物鏡注冊照明方式和光強。這樣每當切換物鏡后,可以自動調節光強和調整照明方式。象以前每次切換倍率后手動調節光強的操作,現在就可以省略了。5倍強度5020X強度70100X強度120可以放置在任意方便使用地方的可拆卸計數器,確保能隨時迅速地檢查測量結果和設備狀態。[常見問題] 需要檢查諸如照明狀態等設備運行狀以及測量結果時,因為是在不同單元上顯示使操作變得非常繁瑣。[STM7解決方案]能一目了然確認當前狀態的計數器計數器帶有顯示設備狀態和設置的指示燈,可以簡單的實現對設備當前設定狀態的確認。X、Y和Z軸的最小單位可以在0.1 μm和1 μm之間切換,此外,還可以在毫米、微米、英寸和密耳之間切換顯示單位。可滿足個性化需求自由放置的可拆卸式計數器無論是安裝在鏡架上還是放置在工作臺上,可拆卸式計數器都可以根據用戶的使用狀況和使用習慣放置在最佳位置。當用戶站著進行測量時,可以將計數器安裝在和觀察位置大致相同高度的鏡架一側,以方便輕松的觀察和檢查結果。當用戶通過數碼相機在顯示器上進行觀察和測量,或使用電動Z軸調焦機型時,只需將計數器和操作裝置放在工作臺上即可輕松地坐在椅子上進行作業。計數器安裝在鏡架上計數器放置在工作臺上高度測量:聚焦導航系統實現更快、更簡單、更精確的高度測量[[常見問題]進行目視測量時,不同的操作者會測得不同的高度測量值。此外,這種測量方法非常耗時,效率低下。[STM7解決方案]具有優越的重復性、簡單且高度精確的聚焦系統通過將圖案投影在視場范圍內,由操作者確認上下圖案的重合情況,奧林巴斯的聚焦導航系統實現了重復性高的高度測量操作。普通的目測觀察進行高度測量時,即使是看上去非常清晰的已經完全合焦的圖像,也會出現微小誤差。而使用STM7的聚焦導航系統,只需匹配標記便可進行測量,因此減少了操作者的主觀性對測量結果造成的影響。目視高度測量聚焦導航系統焦點下方焦點位置焦點上方自動聚焦的優勢成就快速、高精度的高度測量[常見問題]? 進行目視測量時,不同的操作者得出的高度測量結果也會不一樣。? 手動高度測量需要操作者反復進行移動載物臺,使用旋鈕調焦的操作,這使測量既耗時又低效。? 很難對微小的物體聚焦,比如引線。[STM7解決方案]快速、精準的聚焦和不受操作者主觀影響的測量奧林巴斯開發了STM7系列專用的自動聚焦單元,該單元在實現快速聚焦的同時,保障了卓越的對焦重復性。因此,無論操作者的經驗如何,均可以在很短的時間內實現高度精確的高度測量。無論操作者的經驗如何,使用STM7專用自動對焦單元均可以在最短時間內實現高度精確的高度測量。即使是粗糙或傾斜的樣品表面,利用主動反射、共聚焦方法都可以實現穩定對焦,而小直徑的激光,也能保證對微小物體,比如引線的自動對焦。單次對焦模式執行自動聚焦后,可瞬間完成從大致的聚焦狀態轉為視場中心的清晰對焦。跟蹤模式啟用具有特色的追蹤模式后會隨樣品表面的高低起伏自動對焦,即使在移動工作臺的情況下,也可以始終保持合焦狀態。這使得操作者在手不需要離開X和Y手柄的情況下也能實施觀察,從而極大地提高了Z軸的測量效率。拓寬了測量觀察范圍的配件編碼物鏡轉換器將編碼物鏡轉盤與數碼照相機配套使用可以在觀察過程中在屏幕上顯示物鏡的放大倍率,以方便您記錄倍率。同時切換倍率時也能與軟件中記錄的校準值和光強連動調整設置。有明場物鏡和明暗場物鏡兩種供您選擇。MM6-EMO正像單目鏡筒正立圖像用單目鏡筒。可與MM6-OCC10×(帶十字線的目鏡)配套使用。STM7-FS腳踏開關實現了不需要用手進行數據傳輸,使操作者可以在手不離開X和Y手柄的情況下完成測量。SZ-LW61白光LED照明裝置具有小型,輕便,使用壽命長,功耗低等特點。此外,這款高性價比的LED照明單元也不會發生閃爍和亮度波動。SZX2-ILR66+ SZX-RHS LED環形照明+手動控制裝置SZX-RHS手動控制單元可以實現SZX2-ILR66反射LED環形照明裝置的四段獨立照明,并提供具有較高色溫的清晰圖像。可以從13種模式中選擇最佳的照明。旋轉載物臺使用微調旋鈕可以輕松實現對樣品的平行對齊。STM7-RS100STM7-CS100 100mm×100mm載物臺STM7-RS200STM7-CS200 200mm×200mm載物臺STM7-RS300STM7-CS300 300mm×300mm載物臺測量支持系統即使對復雜形狀也能實現更快、更簡單、更精確的測量對于顯示測量顯微鏡輸出的數據和圖像來說,看的越清楚也就能更方便更快捷地使用和測量。為了支持高精度、高復雜性的測量,奧林巴斯測量軟件可以和數碼照相機結合使用。技術規格小型手動鏡架STM7-SF小型電動鏡架STM7-SFA中型手動鏡架STM7-MF中型電動鏡架STM7-MAF大型手動鏡架STM7-LF大型鏡架STM7-LFA顯微鏡鏡架聚焦垂直移動范圍175 mm145 mm最大的測量高度120 mm(配備測量物鏡)175 mm(配備金相物鏡)90 mm(配備測量物鏡)145 mm*1(配備金相物鏡)Z軸測量分辨率0.1 μmZ軸驅動方法手動同軸微調/粗調焦旋鈕電馬達驅動:●聚焦按鈕:移動速度8 mm/s(最大)●微/粗調焦旋鈕:微調焦速度(旋轉一周移動量)有4檔可供選擇(800 μm,400μm,100 μm,50 μm)手動同軸微調/粗調焦旋鈕電馬達驅動:●聚焦按鈕:移動速度8 mm/s(最大)●微/粗調焦旋鈕:微調焦速度(旋轉一周移動量)有4檔可供選擇(800 μm,400μm,100 μm,50 μm)手動同軸微調/粗調焦旋鈕電馬達驅動:●聚焦按鈕:移動速度8 mm/s(最大)●微/粗調焦旋鈕:微調焦速度(旋轉一周移動量)有4檔可供選擇(800 μm,400μm,100 μm,50 μm)照明LED照明白色:用于反射光照明,綠色:用于透射光照明鏡筒正像單目鏡筒,正像三目鏡筒(100:0/0:100)物鏡測量顯微鏡用MM6-OB系列金相顯微鏡用MPLFLN 系列, LMPLFLN 系列, MPLFLN-BD 系列, LMP LFLN-BD 系列目鏡  MM6-OCC10X (帶十字線, FN 22), MM6-O C10X (FN 22)     載物臺測量范圍STM7-CS50:X軸 50 mm, Y軸 50 mmSTM7-CS100:X軸 100 mm, Y軸 100 mmSTM7-CS200:X軸 200 mm, Y軸 200 mmSTM7-CS300:X軸 300 mm, Y軸 300 mm測量精確度(L:測量長度)STM7-CS50: (3+L/50) μmSTM7-CS100: (3+2L/100) μm(3+4L/200) μm(3+6L/200) μm精確度保證重量STM7-CS50: 5 kgSTM7-CS100: 6 kg10 kg15 kg計數器顯示 軸數3軸單位毫米/微米/英寸/密耳   最小分辨率0.1 μm 外形尺寸(寬×長×高)(mm)466 x 583x651466 x 583 x 811606 x 762 x 651606 x 762 x 811804 x 1024 x 686804 x 1024 x 844重量約84 kg約92 kg約152 kg約159 kg約277 kg約284 kg額定功率100-120/220-240V ~50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.3A/0.2A100-120/220-240V ~ 50/60Hz0.6A/0.35A*1 使用大型鏡架STM7-LF/STM7-LFA時,可以將高度為100 mm或以下的樣品放置在光軸后方180 mm或以上距離的地方。物鏡工作距離?                                                  倍率1x3x5x10x20x50x100x物鏡測量物鏡MM6-OB系列 59.676.865.450.5---金相物鏡MPLFLN系列明場--20.011.03.11.01.0LMPLFLN系列長工作距離--22.521.012.010.63.4MPLFLN-BD系列明場/暗場--12.06.53.01.01.0LMPLFLN-BD系列明場/暗場長工作距離--15.010.012.010.63.3

      歐米特工具鐳射盲孔殘膠漏銅測量顯微鏡MT-300

      歐米特工具鐳射盲孔殘膠漏銅測量顯微鏡MT-300

      • 品牌: 蘇州歐米特
      • 型號: MT-300
      • 產地:蘇州
      • 供應商:蘇州歐米特光電科技有限公司

        歐米特工具鐳射盲孔殘膠漏銅測量顯微鏡MT-300 創新圖像處理技術,獲得更精細的動態圖像,測量數據直接發送至Aout CAD中, 測量數據及時傳輸到Word/Excel,以便實時分析,強大的元素測量功能。 ■ 全新的光路設計無限遠校正光學系統,光效率更高,采用長壽命LED光源, 提供出色的圖像質量。

      歐米特工具顯微鏡/測量顯微鏡CMT系列超大尺寸液晶面板COG導電粒子微分干涉A檢查顯微鏡

      歐米特工具顯微鏡/測量顯微鏡CMT系列超大尺寸液晶面板COG導電粒子微分干涉A檢查顯微鏡

      工具顯微鏡

      工具顯微鏡

      • 品牌: 上海孚光精儀
      • 型號: STM12
      • 產地:德國
      • 供應商:孚光精儀(香港)有限公司

        工具測量顯微鏡,工具顯微鏡由中國領先的進口精密儀器和實驗室儀器旗艦型服務商-孚光精儀進口銷售!孚光精儀精通光學,服務科學,歡迎垂詢!工具顯微鏡是非接觸式檢測和二維精密測量的絕佳儀器,非常適合計量部門,科研院所,生產企業對小尺寸物體的檢測工具顯微鏡可以裝備數字測量頭,CCD相機和數字交叉線產生器,顯示器而組成2維可視系統。工具顯微鏡主要指標工具測量顯微鏡位移臺行程:50x50mm工具顯微鏡工作距離:67mm 工具測量顯微鏡玻璃臺尺寸:96x96mm工具顯微鏡最大工件高度:115mm工具測量顯微鏡最大工件重量:5kg工具測量顯微鏡放大倍數:30x (目鏡15x, 物鏡2x)工具顯微鏡顯微鏡體積:210x333x391mm工具顯微鏡重量: 13.5kg工具測量顯微鏡和歐洲進口的工具顯微鏡,是非接觸式檢測和二維精密測量的絕佳儀器,非常適合計量部門,科研院所,生產企業對小尺寸物體的檢測

      對比欄隱藏對比欄已滿,您可以刪除不需要的欄內商品再繼續添加!
      您還可以繼續添加
      您還可以繼續添加
      您還可以繼續添加
      您還可以繼續添加
      您還可以繼續添加